,*,按一下以編輯母片標題樣式,按一下以編輯母片,第二層,第三層,第四層,第五層,HMD-TEST,培訓之,ICT,上電測試原理,TR8001 ON POWER,測試部份講解,HMD-TEST培訓之ICT上電測試原理TR8001 ON,1,電池測試原理,112 111,111,在,MDA,信號斷開，避免,DISCHARGE,過程將電池電量放掉；,112在,MDA,接地，避免電池對,MDA,測試的影響，上電時恢復信號，來測試電池及,R282。,電池測試原理,2,POWER DELIVERY MAP,POWER DELIVERY MAP,3,POWER ON,POWER ON,4,ICT上电测试讲解ppt课件,5,ICT上电测试讲解ppt课件,6,電壓測試線路分析,輸出,輸入,反饋,電壓測試線路分析輸出輸入反饋,7,PWRGD_30MS,PWRGD_30MS,8,1.以上線路的輸入，輸出，及反饋信號分別是哪些？,2.如果此電壓（+1_1,V_ME),有誤測，應如何解決？,1.以上線路的輸入，輸出，及反饋信號分別是哪些？,9,1,0,0,1,1,0,0,0,1,1,1,1,例一:NAND GATE,TTL邏輯閘測試原理(TTL Logic Test Theorem),標準邏輯閘依其邏輯行為可分為 AND、OR、XOR、NOT、NAND、NOR,、FLIPFLOP等兩態元件及OPEN DRAIN，TRI-STATE等元件。,上述元件依其複合變化方式以真值表向量PATTERN 方式量測。,100110001111例一:NAND GATETTL邏輯閘,10,1,0,0,1,1,0,0,0,1,1,Z,Z,例二:Tri-State Buffer,1001100011ZZ例二:Tri-State Buffe,11,TTL,測試應用,TTL測試應用,12,TTL,誤測解決方案,1.,確認,TTL,芯片供電電壓是否,OK,2.,將誤測,TTL,測試,BLOCK,換到其他位置測試，儘量避開,TREE,測試,BLOCK,3.加,DIS-C-U,的命令，一般為,DISABLE SIO,IC，,記住加完該命令在,END,前加,DIS-R-C,命令,TTL 誤測解決方案1.確認TTL芯片供電,13,Tree-Chain 測試原理,絕大部分晶片元件於功能測試時需要大量的測試 Pattern，利用其,Function Pattern來檢測晶片元件是否有製程上的問題，但是這樣,的做法並不實際。不僅需要較長的測試時間，且增加開發測試程式,的難度。所以近年來，內建Tree Chain 架構的 IC 也越來越多。,Tree Chain 的測試是藉著IC 內部的GATE串聯成Chain結構,再以TTL測試原理,測其Chain.,DUT_VCC,DUT_VCC,A B Y,0 0 1,0 1 1,1 0 1,1 1 0,A B Y,0 0 0,0 1 1,1 0 1,1 1 0,U?,NAND2,1,2,3,U?,NAND2,1,2,3,U?,XOR2,1,2,3,U?,XOR2,1,2,3,U?,NAND2,1,2,3,U?,NAND2,1,2,3,U?,NAND2,1,2,3,U?,NAND2,1,2,3,R?,R,U?,NAND2,1,2,3,R?,R,U?,XOR2,1,2,3,U?,XOR2,1,2,3,U?,XOR2,1,2,3,U?,XOR2,1,2,3,U?,XOR2,1,2,3,N5,N4,N3,N2,N1,CHAINOUT,N6,B,A,Y,N5,N4,N3,N2,N1,CHAINOUT,N6,B,A,Y,Tree-Chain 測試原理DUT_VCCDUT_VCCA,14,1,0,1,1,0,0,1,0,1,例一:NAND TREE,与非门,101100101例一:NAND TREE与非门,15,1,1,1,0,0,0,1,0,1,1,1,0,0,Open Hi,1110001011100Open Hi,16,1,1,1,0,0,0,1,0,1,1,1,0,0,Open Lo,1110001011100Open Lo,17,1,0,0,1,1,1,0,0,0,例二:XOR TREE,异或门,100111000例二:XOR TREE异或门,18,1,1,1,0,0,0,0,1,0,1,1,1,1,Open Hi,1110000101111Open Hi,19,ICT上电测试讲解ppt课件,20,ICT上电测试讲解ppt课件,21,TREE TEST COMMAND,TREE TEST COMMAND,22,ICT上电测试讲解ppt课件,23,TREE,誤測解決方案,1.,保證主板電壓穩定，若有電壓誤測，先解決電壓誤測。,2.,TREE BLOCK,位置切換，及,BLOCK,分割，,以避免前一個,TREE CHAIN,測試的干擾。,3.加,DIS-C-U,命令，來屏蔽其他,IC,的干擾。,4.更換對應誤測針點的開關板。,TREE 誤測解決方案1.保證主板電壓穩定，若,24,Boundary-Scan,是藉由測試,IC,內部為了製程問題而設計的線路的一種測試方法,BSCAN,測試的條件,:1.,待測,IC,必須要支援,BSCAN,的測試,2.,支援,BSCAN,測試的,IC,都會有一個由,IC,製造廠商所提供,的對應檔案,Boundary-Scan Description Language(BSDL),Boundary-Scan,測試原理,:BSCAN,的內建測試線路是在每一個數位的輸入及輸出腳位連接至少一個,Cell,所組成的,.,第一個,Cell,並再連接一個輸入點稱為,TDI,最後一個,Cell,的輸出點稱為,TDO,在,BSCAN IC,中，內建,4,個或,5,個,BSCAN:,TDI,：,Test data Input,串列的測試資料由此點輸入,TDO,：,Test data Output,串列的測試資料由此點輸出,TCK,：,Test Clock,測試時的同步信號,TMS,：,Test Mode Select,測試時的測試模式輸入點,RESET,：,Test Reset,測試過程時的,Reset,信號輸入點,TAP,控制器,(Controller):,藉由,TCK,、,TMS,、,Reset,三個腳位的輸入資料來決定此狀態。,指令暫存器,(Boundary-Scan Instruction Register,，,IR),設定,BSCAN,的測試命令,，,IR,的資料是由,TAP,腳位輸入,資料暫存器,(Data Register),，這些暫存器都位於,TDI,及,TDO,之間，使得,經由,TDI,的輸入資料能傳入這些資料暫存器再經由,TDO,輸出。,Bypass Register,:,它是,TDI,到,TDO,之間最短的路線,當,IR,為,BYPASS,命令時，可以將整個,IC,視為一個單一的,Cell,Device Identification Register:,儲存每個,BSCAN IC,特定的零件號碼資料，可用來確認,IC,是否與其應有的號碼相同,Boundary Register,:,這個暫存器是最重要的暫存器,Cell,的,I/O,屬性分為,Input,、,Output,、,Bidirectory,及,Control,Boundary-Scan 測試原理,Boundary-Scan 是藉由測試 IC 內部為了製程,25,Architecture BS IC Circuit,Architecture BS IC Circuit,26,ICT上电测试讲解ppt课件,27,ICT上电测试讲解ppt课件,28,JTAG PROTOCOL,JTAG PROTOCOL,29,BLOCK RESET;,DL(TCK,TMS);,DH(TCK);,DL(TCK,TMS);,DH(TCK);,DL(TCK)DH(TMS);,DH(TCK);,DL(TCK)DH(TMS);,DH(TCK);,DL(TCK)DH(TMS);,DH(TCK);,DL(TCK)DH(TMS);,DH(TCK);,DL(TCK)DH(TMS);,DH(TCK);,DL(TCK)DH(TMS);,DH(TCK);,DL(TCK)DH(TMS);,;,BLOCK RESET;,30,BLOCK CAPTURE;,DL(TCK)DH(TMS,TDI);,DH(TCK);,DL(TCK,TMS);,DH(TCK);,DL(TCK)DH(TMS);,DH(TCK);,DL(TCK);,DH(TCK);,DL(TCK,TMS);,DH(TCK);,DL(TCK);,DH(TCK);,DL(TCK)SH(TDO);/BIT 1/,DH(TCK);/END TMS/,DL(TCK)SL(TDO);/2/,DH(TCK);,DL(TCK)SH(TDO);/3/,DH(TCK);,DL(TCK)SH(TDO);/4/,DH(TCK);,DL(TCK)SH(TDO);/5/,DH(TCK);,DL(TCK)SL(TDO);/6/,DH(TCK);,DL(TCK)SL(TDO);/7/,DH(TCK);,DL(TCK)SL(TDO);/8/,DH(TCK);,DL(TCK)DH(TMS);,DH(TCK);,DL(TCK);,DH(TCK);,DL(TCK,TMS);,DH(TCK);,DL(TCK);,DH(TCK);,DL(TCK);,DH(TCK);,;,BLOCK CAPTURE;,31,BLOCK DEVICEID;,DL(TCK)DH(TMS,TDI);,DH(TCK);,DL(TCK,TMS);,DH(TCK);,DL(TCK)DH(TMS);,DH(TCK);,DL(TCK);,DH(TCK);,DL(TCK,TMS);,DH(TCK);,DL(TCK);,WHERE IS TMS?（1）,DH(TCK);,DL(TCK,TDI);/IDCODE 00010110/,DH(TCK);,DL(TCK)DH(TDI);,DH(TCK);,DL(TCK);,DH(TCK);,DL(TCK,TDI);,DH(TCK);,DL(TCK)DH(TDI);,DH(TCK);,DL(TCK,TDI);,DH(TCK);,DL(TCK);,DH(TCK);,DL(TCK)DH(TMS);/EXIT INSTRUCTION REGISTER/,DH(TCK);/END IDCODE/,DL(TCK);,DH(TCK);,DL(TCK);,DH(TCK);,DL(TCK,TMS);,DH(TCK);,DL(TCK);,WHERE IS TMS?（2),DH(TCK);,DL(TCK)SH(TDO);/DEVICE ID/,DH(TCK);,DL(TCK)SH(TDO);,DH(TCK);,DL(TCK)SL(TDO);,DH(TCK);,DL(TCK)SL(TDO);,DH(TCK);,DL(TCK)SL(TDO);,DH(TCK);,DL(TCK)SL(TDO);,DH(TCK);,DL(TCK)SH(TDO);,DH(TCK);,DL(TCK)DH(TMS);,DH(TCK);,DL(TCK);,DH(TCK);,DL(TCK,TMS);,DH(TCK);,DL(TCK);,DH(TCK);,DL(TCK);,DH(TCK);,;,DEVICE ID,是什麽？(3),BLOCK DEVICEID;,32,Bscan,誤測解決方案,1.,保證主板電壓穩定，且1.05,V_PCH,電壓要穩定。,2.加,DIS-C-U,命令，屏蔽其他芯片上電時的干擾。,3.切換,BSCAN BLOCK,測試位置，避免其上下,BLOCK,測試時的干擾。,4.更換,TAP,信號針點對應的開關板。,Bscan 誤測解決方案1.保證主板電壓穩定，且,33,Questions&Answers,THANK You!,Q