单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,統計製程控制,Statistical Process Control(SPC),X-R管制图,統計製程控制,的,的起源,1924年修,華,華特博士(,Dr.WAShewhart),在貝爾試驗室(,Bell Laboratory),工作期間,發明了品質控,制,制圖,1939年修,華,華特博士與戴,明,明博士(,Dr.Deming),合作寫了一本,品質觀點的,統,統計方法(,StatisticalMethodfromthe point ofQuality Control),第二次世界大,戰,戰前後，英、,美,美兩國將品質,控,控制圖的方法,引,引進製造業，,並,並應用於生產,過,過程中,1950年日,本,本的,JUSE,邀請了戴明博,士,士到日本演講,，,，介紹了,SQC,的技術與觀念,(為了紀念戴,明,明博士的貢獻,，,，,JUSE,於1951年,成,成立了戴明獎),識別不斷變化,的需要和期望,統計方法,我們工作,的方式/資源,的融合,人,設備,材料,方法,環境,輸入,生產過程,輸出,顧客,產品,過程的呼聲,甚麼是統計製,程,程控制(,SPC),甚麼是統計製,程,程控制(,SPC),+,Xbar,-,Xbar,重調,新工作人員,使用諸如管制,圖,圖等統計技術,來,來分析製程或,其,其輸,出，以便採取,適,適當的措施來,使,使製程達到並,保,保持 統計,管,管制狀態，從,而,而提高製程的,能,能力,統計製程控制(,SPC),基礎理論,Six Principles,六項原理,1.沒有兩,件,件物件是完全,一,一樣的,2.產品或,製,製程的變異是,可,可以量度的,3.變異是,有,有一個特定的,模,模樣,4.當收集,的,的數據愈來愈,多,多的時侯，將,會,會趨向於中心,5.製程的,分,分佈圖形是可,以,以預見的,6.由特殊,變,變異原因引起,的,的變異會引致,正,正態分佈的變,形,形,數據的統計分,析,析,1.對數值,群,群作出分析以,掌,掌握其分佈特,性,性,2.分,析,析方法包,括,括：,-圖表,或,或,-計算,特,特定的參,數,數值,3.通,用,用的圖表,包,包括：,-直方,圖,圖,-統計,分,分析表,數據的統,計,計分析,4.常,見,見的特性,參,參數包括,：,：,-平均值(,mean:,),中位數(,median:Om),-,標準差(,standarddeviation:,),-,全距(,range:R),中心趨向,散佈情況,控制圖的,種,種類和選,擇,擇,數據,計量值,計數值,缺點,不良品,c,-,控制圖,u,-,控制圖,p,-,控制圖,np,-,控制圖,X-R,控制圖,X-s,控制圖,X-R,控制圖,固定的,樣本數,可變的,樣本數,可變的,樣本數,固定的,樣本數,樣本數,2,n 6,個別值,X-MR,控制图,用单值,控制,控制圖的,用,用途,控制圖,用途,代表,x-R,及,x-s,用作樣本數平均值轉變的製圖,全距和標準差控制圖是控制數據的,散佈程度,樣本數的平均值,x-R,用作個別樣據轉變的製圖,全距控制圖是控制數據的散佈程度,個別數據的平均值,p,用作每一樣本組不良品比率的製圖,樣本數可以改變,np,用作每一樣本組不良品數目的製圖,樣本數是固定的,c,用作缺點數目的製圖，而每次查驗,的面積是相同的,樣本數是固定的,用作單位缺點數目的製圖，而每次,查驗的面積都可以改變的,樣本數是可變的,u,缺點數目,每單位缺點數目,不良品數目,不良品的比率或,百分比,X-MR,有必要用单值而不是子组来进行过程时；,单值移动极差,X-R,控制圖作成步驟,選擇質量特性,選取樣本組,(抽樣方法、,數目、次數),收集數據,設定全距之,控制界限,全距在統計,控制之內,設定平均值,之控制界限,平均值在統,計控制之內,以設定之控制,界限持續監控,是,是,否,否,步驟一：,選,選擇質量,特,特性,選擇可量,度,度的，具,有,有代表製,程,程質量控,制,制的特性,選擇有代,表,表性的質,量,量特性時,，,，可以參,考,考以下的,指,指引：,-優,先,先選取經,常,常出現次,品,品的質量,特,特性；可,以,以利用柏,拉,拉圖,分析法去,決,決定優先,次,次序,-識別,工,工序的變,異,異因素和,對,對成品質,量,量的影響,，,，繼而決,定,定,應用控制,圖,圖的生產,工,工序。,例如：,光泽,、,色差、安,全,全气囊肉,厚,厚、,塑注件重,量,量等都,是一些會,影,影響塑注,件,件尺寸的,工,工序變異,因,因素,X-R,控制圖作成步驟,步驟二：,選,選取樣本,組,組-,抽樣方法,和,和數目,即是抽樣,方,方法,當成品在,某,某一個時,間,間開始生,產,產，即時,任,任意地抽,取,取樣本,提供瞬間,時,時間上的,參,參考以協,助,助找出變,異,異的因素,和,和更快地,顯,顯示工序,平,平均值的,轉,轉變,期間抽樣,方,方法,在某一期,間,間內選取,樣,樣本,期間抽樣,方,方法可以,提,提供較全,面,面的結果,抽樣數目,大約在四,和,和七之間,因五為一,般,較方便處,理,理的抽樣,數,數，故通,常,常以此為,標,標準,X-R,控制圖作成步驟,1-65,66 -110,111 -180,181 -300,301 -500,501 -800,801 -1300,1301 -3200,3201 -8000,8001 -22000,5,10,15,25,30,35,40,50,60,85,批量,樣本數,步驟二：,選,選取樣本,組,組-,抽樣次數,可根據下列的因,素,素決定：,產品/工序的質,量,量表現歷史,評估機械/,人,人手的資源,估計的查驗成本,和,和損壞成本,也可根據左列的,附,附表作為參考,X-R,控制圖作成步驟,步驟三：收集數,據,據,X-R,控制圖作成步驟,抽取二十至,二十五組數據,樣本數目,D,3,D,4,2,3,4,7,8,6,5,9,10,0,0,0,0,0,0.076,0.136,0.184,0.223,3.267,2.574,2.282,2.114,2.004,1.924,1.864,1.816,1.777,上控制界限(,UCL,R,)=D,4,R,下控制界限(,LCL,R,)=D,3,R,註：,R=,R,i,k,R,i,-,第,i,個控制分組的全距,R-,所有樣本的平均全距,k-,樣本個數(組數),步驟四：設定全,距,距控制圖的控制,界,界限,X-R,控制圖作成步驟,步驟四：設定,全,全距控制圖控,制,制界限,LCL,R,=D,3,R =0 x 5.4=0,UCL,R,=D,4,R =2.114 x 5.4=11.39,X-R,控制圖作成步驟,全距受控制,步驟五：測試控,制,制界限,X-R,控制圖作成步驟,是否所有的全距數據,都包括在管制界限內,是,否,是否祇有一至兩個,全距數據超出,三個或以上的全距,數據超出界限,否,全距不在控制範圍,不要計算平均值界限,解決變異原因,收集新數據,計算新全距界限,是,把這一個至兩個的平均,值和全距數據棄置,再計算,X，R,和,全距管制界限,是否包括在界限內,是,否,計算平均值,的界限控制,樣本數目,A,2,2,3,4,7,8,6,5,9,10,1.880,1.023,0.729,0.577,0.483,0.419,0.373,0.337,0.308,註：,x=,x,i,k,x,-,所有抽樣組平均值的平均值,x,i,-,第,i,個抽樣組的平均值,k -,樣本個數(組數),步驟六：設定,平,平均值控制圖,控,控制界限,X-R,控制圖作成步驟,上控制界限(,UCL,X,)=x+A,2,R,下控制界限(,LCL,X,)=x-A,2,R,步驟六：設定,平,平均值控制圖,控,控制界限,UCL,X,=x+A,2,R =90.93+(0.577 x 5.4)=94.06,LCL,X,=x-A,2,R =90.93 -(0.577 x 5.4)=87.80,X-R,控制圖作成步驟,步驟七：測試控,制,制界限,X-R,控制圖作成步驟,是否所有平均值數據,都包括在管制界限內,是,否,是否祇有一至兩個,全距數據超出,三個或以上的平均,值數據超出界限,否,平均值不在控制範圍,不要計算平均值界限,解決變異原因,收集新數據,計算新全距界限,是,把這一個至兩個的平均,值和全距數據棄置,再計算,X,和,平均值的管制界限,是否包括在界限內,是,否,平均值受控制,在正常生產時,續用這控制圖,重回全距決策圖,初期用作計算的,工,工序質量特性，,可,可能會隨著環境,而,而轉變。故理想,做,做法為對控制界,限,限作定期檢討。,定期檢討和是否,重,重新計算的需要,會,會視符工序和操,作,作情況的轉變而,定,定。,在下列的情況重,新,新計算控制界限,使用新的工序,使用新的機器,使用新的物料,現時的工序情況,有,有改變,機器操作的情況,有,有改變,管制界限的更新,控制圖的分析,在中心線的任何,一,一方，有連續的,點,點子就稱為連點,如果連點的數目,等,等於七或以上，,我,我們便可總結在,製,製程中，有不正,常,常的因素存在,連點,(,RUNS),控制圖的分析,趨勢(,TRENDS),如果有連續的點,子,子上升或下降，,我,我們便稱之為趨,勢,勢,我們考慮如果有,連,連續七個點子的,升,升或降的趨勢時,，,，在製程中會有,不,不正常的因素存,在,在,控制圖的分析,週期性(,PERIODICITY),如果點子顯示相,同,同的轉變型(即,升,升或降)出現在,相,相同的時間差別,時,時，即點子的軌,跡,跡有規律地變化,，,，我們便稱之為,週,週期性的型態,控制圖的分析,靠緊(,HUGGING),當點子緊靠控制,界,界限時，我們便,稱,稱之為界限緊靠,控制圖的分析,水平轉變(,SUDDENSHIFT IN LEVEL),因點子的型態急,趨,趨於上升或下降,時,時，而產生一個,新,新的水平,受控,不受控,有製程能力,無製程能力,製程的好與壞,过,程能力,指数,C,PK,与PPM,關係,C,PK,USL-,（或,-LSL,）,PPM,0.33,158655,0.67,2,22751,1.00,3,1350,1.33,4,32,1.67,5,0.13,2.00,6,0.001,Cp=,USL-LSL,6,R,/,d2,Cp,的定義,USL-,上規格界限,LSL-,下規格界限,-,製程,的,的標,準,準差,USL,LSL,製程,穩,穩定,樣本,數,數不,少,少於30,接近,正,正態,分,分佈,Cpk,的定,義,義,Cpk=,USL-x,3,R,/,d2,最小,值,值,x-LSL,3,R,/,d2,，,USL,LSL,CL,製程,穩,穩定,樣本,數,數不,少,少於30,接近,正,正態,分,分佈,过,程,性能,指,指数Ppk,統計,製,製程,控,控制,的,的推,行,行步,驟,驟,訂定,製,製程,決定,主,主要,製程,參,參數,評核,有,有關,測試,能,能力,能力,可,可接,受,受,評估,製,製程,能,能力,能力,可,可接,受,受,製訂,控,控制,圖,圖,製訂,OCAP,正式,推,推行,改善,能,能力,改善,能,能力,是,是,否,否,OCAP-OUTOFCONTROLACTIONPLAN,(,不受,控,控應,對,對計,劃,劃),成功,推,推行,SPC,的條,件,件,數據,的,的完,整,整性,-,數,數值,準,準確,、,、有,良,良好,重,重複,性,性,數據,的,的追,溯,溯性-,問題,可,可追,溯,溯至,相,相關,的,的材,料,料、,設,設備,等,等,確定,關,關鍵,製,製程,的,的參,數,數-,確立,對,對質,量,量有,重,重要,影,影響,參,參數,實時,能,能力-,按實,況,況及,時,時調,整,整有,關,關參,數,數作,出,出改,善,善,常見,的,的推,行,行問,題,題,缺乏,中,中層,管,管理,人,人員,的,的支,持,持,過於,著,著重,電,電腦,的,的幫,助,助,對品,質